Tänapäeva kõrgtehnoloogia pideva arengutrendiga kasutatakse elektroonilisi komponente üha laiemalt kõrgtehnoloogilistes tööstusharudes, näiteks lennufirmades, lennunduses, kosmoses, armatuurlaudades, täppismõõtmistes ja sõjaväes. Lisaks on elektrooniliste komponentide kvaliteet selgelt kõrgem. Eraldised.
Elektrooniliste komponentide kvaliteet seab kohe ohtu masinate ja seadmete töö ning nendest koosnevatel elektroonikatoodetel peab olema võime keskkonnategurite korrosioonile vastu seista. Seetõttu nõuavad paljud regulatsioonid suurepärast tihendusvõimet, et välised vedelad (gaasi- ja / või vedelad) keskkonnad ei tungiks siseruumidesse struktuuriliste tühimike, tühimike või aukude kaudu, mis toob elektrooniliste komponentide toimimisele kaasa kahjulikke ohte.
Kui tihendusvõime on kehv, ei suuda see vastu pidada keskkonnategurite erosioonile ning looduslikus keskkonnas toimub fotosüntees koos kõrge temperatuuri, keskkonna niiskuse muutuste ja kahjulike ainetega, mis põhjustab elektrolüüsi raudtraadis või kaetud metallmaterjalist kiht elektroonikaseadme sees. Meetod on erodeeritud ja hävitatud, mille tagajärjel muutuvad elektri põhiparameetrid, väheneb jõudlus või funktsioon kaob koheselt; tihendamise tegelik mõju on halb ja sisemine veeaur on liiga kõrge. Kui temperatuur on ülimadal temperatuur, põhjustab see autorelee kontaktpunktis pihustuskeevituse ja paneb selle seejärel tööle. Puudu; või elektromagnetilise kiirguse paremaks vältimiseks, valgusallikate mõju vältimiseks jne, kui elektroonilised komponendid on pitseeritud, ei ole hermeetiline jõudlus hea, mis võib põhjustada kohese kehtetuse ja see puudus kahjustab tõsiselt elektrooniliste komponentide kasutamist. stabiilsus. Seetõttu peavad põhimõtteliselt kõik elektroonikakomponentide tootjad teostama elektroonikakomponentide tihenduslekkide tuvastamise, testima elektroonikakomponentide tihendamisomadusi ja valima suurepärase tihendusfunktsiooniga elektroonikakomponendid.
Elektrooniliste komponentide valik määratakse lekke tuvastamise katsete abil ja võltsitud tihendusmaterjalide või halva töötlemistehnoloogia valik põhjustab tihendusprobleeme. Selle lekete tuvastamine on jagatud kaheks tervikprotsessiks: peen tuvastamine ja töötlemata tuvastamine. Peenlekke tuvastamisel kasutatakse vesiniku massispektromeetria lekkeanduri vasturõhu meetodit. Selles etapis on levinud lekete tuvastamine fluoriõli aurumullide meetod. Katsed viivad läbi esmalt peene lekke tuvastamise ja seejärel ligikaudse lekke tuvastamise.
Fluoriõli on suurepärase elektrilise polariseerumisvõimega, suurepärase orgaanilise keemilise plastilisusega, kvaliteetse dielektrilise tugevusega ning suurepärase vastupidavusega kõrgete ja madalate temperatuuride katsetöödele. See on vastupidav elektroonikakomponentide korrosioonile ja ei kahjusta seadme erinevaid põhiparameetreid. Jämeda lekke tuvastamise katse jaoks mõeldud idealiseeritud vedeliku lekke tuvastamise võti sisaldab kahte etappi: madala keemisega fluoriõli ja kõrge keemisega fluoriõli pressimine ja mullide lekke tuvastamise kuumutamine.
Esimene samm on puhaste ja puhaste elektrooniliste komponentide viimine survestatud anumasse, mis on suletud ja vaakumpakendatud, ning seejärel lisage nõusse vaakumpumba tingimustes madala keemistemperatuuriga fluoriõli, et kontrollitav täielikult neelata. seade. Täitke anum teatud aja jooksul N2-ga. Kui testitud seadmel on tavaline avaplaat, surutakse madala keemistemperatuuriga fluoriõli testitud seadme siseseina. Pärast laadimist eemaldage elektrooniline seade ja pange see teatud aja jooksul õhku, et eemaldada madala keemisega fluoriõli testitava elektroonikaseadme pinnalt.
Teine samm on infiltreerida kuivalt testitud seade 125 ° -ni kuumutatud kõrge keemisega fluoriõlisse ja testitava seadme ülaosa ei tohiks tungida sügavamasse kihti alla 5 cm. Kastke teatud ajaperioodiks ja jälgige, kas kontrollitava elektroonika komponentides on suure võimsusega luupiga mullid. Kui mullid jätkavad vabanemist, näitab see, et kontrollitavate elektrooniliste komponentide tihendamisomadustega on probleeme.
Kokkuvõte: Kõrgtehnoloogia tehnoloogia pideva arengutendentsiga muutub selle rakendamine tavalisemaks ja elektrooniliste komponentide kvaliteedieeskirjad muutuvad üha rangemaks. Elektroonikakomponentide kvaliteedi testimiseks on ainus viis konarliku lekke tuvastamise katse. Elektrooniliste komponentide töötlemata tuvastamise nõuded muutuvad üha kõrgemaks ja nõuded üha suuremaks.